檢索結果：共5筆資料 檢索策略： "系統".ckeyword (精準) and cadvisor.raw="曾垂拱"
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本研究是有關以光學干涉法進行物件表面的量測。在麥克森干涉系統中加入四分之一波片與偏光鏡來產生相位移的效果，由四相位法(Four-Frame Technique)，計算出代表各點高度的相位資料，以提昇…
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本文以改良麥克森干涉系統再配合四分之一波片與偏光鏡的組合發展出更高解析度的光學非接觸式量測系統。利用簡單光學元件的組合產生四組不同的相位移狀態，即可得到四組連續的干涉條紋，使系統的解析度提昇四倍，達…
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本研究以相位量測的方式，針對微奈米級階級性表面進行量測，利用現有的設備建構一組改良式麥克森干涉儀，同時將光學顯微鏡與相位量測相關原理結合，並加入相位移技術的四相位法，提高整個系統的解析度。在實驗上使…
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本文旨在探討印表機傳動系統參數之量測，依據力學原理對一印表機進行實地的量測。量測項目包括皮帶彈性常數、傳動系統慣性阻抗、軸孔配合件間的動摩擦係數、皮帶所受初壓力與入紙簧片的壓力量測等。經由實際的量測…
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以往相位量測法，常用於表面緩慢變化的量測，如平坦度的檢測，而對有階級差的表面，受限於不是連續性的變化，因此不易進行。 本研究內容利用現有的設備建構一組改良式麥克森干涉儀，同時將光學顯微鏡與相位量測相…